半自動硅片厚度TTV測試儀
概述:[中介]特征 ■適用于硅片等各種材料的厚度TTV精確測量 ■測量范圍:0~2mm ■分辨率:0.1μm ■微電腦控制、液晶顯示 ■菜單式界面、PVC面板操作 ■接觸式測量 ■測頭自動升降 ■手動、自動雙重測量模式
 
特征
■適用于硅片等各種材料的厚度TTV精確測量
■測量范圍:0~2mm
■分辨率:0.1μm
■微電腦控制、液晶顯示
■菜單式界面、PVC面板操作
■接觸式測量
■測頭自動升降
■手動、自動雙重測量模式
■數(shù)據(jù)實時顯示、自動統(tǒng)計
■顯示厚度、TTV、平均值和統(tǒng)計偏差
■電源:AC 220V 50Hz[本信息來自于今日推薦網(wǎng)]
特征
■適用于硅片等各種材料的厚度TTV精確測量
■測量范圍:0~2mm
■分辨率:0.1μm
■微電腦控制、液晶顯示
■菜單式界面、PVC面板操作
■接觸式測量
■測頭自動升降
■手動、自動雙重測量模式
■數(shù)據(jù)實時顯示、自動統(tǒng)計
■顯示厚度、TTV、平均值和統(tǒng)計偏差
■電源:AC 220V 50Hz[本信息來自于今日推薦網(wǎng)]

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