硅片厚度測厚儀
概述:[中介]硅片測厚儀(HS-WTT) 適用于量程范圍內(nèi)的硅片等各種材料的厚度精確測量。 特征 液晶顯示 接觸式測量 手動測量模式 數(shù)據(jù)實時顯示 具有輸出接口,可選配適配器實現(xiàn)232接口功能 技術(shù)指標 測
 
  
硅片測厚儀(HS-WTT)
適用于量程范圍內(nèi)的硅片等各種材料的厚度精確測量。
特征
液晶顯示
接觸式測量
手動測量模式
數(shù)據(jù)實時顯示
具有輸出接口,可選配適配器實現(xiàn)232接口功能
技術(shù)指標
測量范圍:0~12.7mm
分辨率:0.001mm
外形尺寸:300mm(L)×200(B)×340mm(H)
凈重:20kg
標準
GB/T 1876-2007[本信息來自于今日推薦網(wǎng)]
  
硅片測厚儀(HS-WTT)
適用于量程范圍內(nèi)的硅片等各種材料的厚度精確測量。
特征
液晶顯示
接觸式測量
手動測量模式
數(shù)據(jù)實時顯示
具有輸出接口,可選配適配器實現(xiàn)232接口功能
技術(shù)指標
測量范圍:0~12.7mm
分辨率:0.001mm
外形尺寸:300mm(L)×200(B)×340mm(H)
凈重:20kg
標準
GB/T 1876-2007[本信息來自于今日推薦網(wǎng)]

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