測(cè)試
所有分類下結(jié)果VMIC反射內(nèi)存實(shí)時(shí)網(wǎng)絡(luò) VMIC反射內(nèi)存卡 RTX開發(fā)

光纖反射內(nèi)存網(wǎng)絡(luò)硬件延時(shí)測(cè)試報(bào)告結(jié)論摘要
1)數(shù)據(jù)包在整個(gè)環(huán)網(wǎng)上的延時(shí)
網(wǎng)絡(luò)數(shù)據(jù)從開始發(fā)送到在環(huán)網(wǎng)流轉(zhuǎn)一周的總延時(shí)為:總延時(shí)≈600*(節(jié)點(diǎn)數(shù)-1)+3*光纖線長,單位:ns。
2)通過PCI總
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PCI5565反射內(nèi)存卡 VMIC反射內(nèi)存實(shí)時(shí)網(wǎng)絡(luò) 反射內(nèi)存交換機(jī)

反射內(nèi)存提供多個(gè)超過標(biāo)準(zhǔn)網(wǎng)絡(luò)的特性:比如全局化內(nèi)存、高速數(shù)據(jù)傳輸以及軟件透明度,這些特性使反射內(nèi)存成為最具吸引力的多機(jī)通訊解決方案。與傳統(tǒng)通訊方式的附加開發(fā)時(shí)間、測(cè)試、維護(hù)、文檔編制和附加CP
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出售反射內(nèi)存節(jié)點(diǎn)卡PCI5565
www.vmic5565.com下載案例
實(shí)時(shí)仿真系統(tǒng)搭建
反射內(nèi)存卡使用
反射內(nèi)存卡測(cè)試源碼
實(shí)時(shí)仿真系統(tǒng)案例
反射內(nèi)存卡DOS版驅(qū)動(dòng)程序
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供應(yīng)PCI接口反射內(nèi)存卡PCI-5565PIORC-210000

實(shí)時(shí)仿真系統(tǒng)案例
實(shí)時(shí)仿真系統(tǒng)搭建
反射內(nèi)存卡使用
反射內(nèi)存卡測(cè)試源碼
反射內(nèi)存卡DOS版驅(qū)動(dòng)程序
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原生多晶大量程電阻率測(cè)試儀
[中介]產(chǎn)品介紹:
HS‐POSRT原生多晶電阻率測(cè)試儀是一款高端電阻率測(cè)試儀器,具有電阻率大量程及超大量程測(cè)量的特點(diǎn),實(shí)現(xiàn)了電阻率從0.0001歐姆.厘米到幾萬歐姆.厘米(可擴(kuò)展)的測(cè)試范圍,具有測(cè)量精度高、穩(wěn)
便攜式戶外IV曲線測(cè)試儀 I-V曲線,P-V曲線

■主機(jī)與探頭之間采用無線連接,提供最大100米的無線通信連接功能,使您的測(cè)試更便捷、方便。
■提供擁有專利技術(shù)的探頭盒與溫度探頭安裝支架,能夠方便快速的將探頭安裝在電池板上。
■提供獨(dú)有的條碼掃描功能,實(shí)現(xiàn)組件智能識(shí)別。
■高亮、陽光下可視彩色液晶顯示,觸摸屏加鍵盤操作,包含豐富的外設(shè)接口,提供非同一般的操作體驗(yàn)。機(jī)內(nèi)存儲(chǔ)器可存儲(chǔ)超過2000幅測(cè)試波形,并內(nèi)置SD卡插槽,支持存儲(chǔ)空間擴(kuò)容。
■采用WINCE圖形系統(tǒng),多國語言
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進(jìn)口無接觸硅片測(cè)試儀
[中介]產(chǎn)品介紹
手動(dòng)硅片測(cè)試儀可以測(cè)量硅片厚度、總厚度變化TTV、彎曲度,該儀器適用于Si,GaAs,InP,Ge等幾乎所有的材料,所有的設(shè)計(jì)都符合ASTM(美國材料實(shí)驗(yàn)協(xié)會(huì))和Semi標(biāo)準(zhǔn),確保與其他工藝儀器的兼容與統(tǒng)
太陽能電池量子效率測(cè)試儀
[中介]PH-IQE200為太陽能電池光譜響應(yīng)測(cè)試,或稱量子效率QE(Quantum Efficiency)測(cè)試,或光電轉(zhuǎn)化效率IPCE (Monochromatic Incident Photon-to-Electron Conversion Efficiency) 測(cè)試等,廣義來說,就是測(cè)量光
無接觸硅片厚度TTV電阻率綜合測(cè)試系統(tǒng)
[中介]PV-1000系列無接觸硅片厚度TTV電阻率綜合測(cè)試系統(tǒng)為太陽能/光伏硅片及其他材料提供快速、多通道的厚度、(總厚度變化)TTV、翹曲及無接觸電阻率測(cè)量功能。并提供基于TCP/IP的數(shù)據(jù)傳輸接口及基于Windows的控
藍(lán)寶石圓度測(cè)試儀
[中介]RA2000是一種操作簡便的測(cè)量儀,用于對(duì)工件的幾何尺寸特別是圓度進(jìn)行精確測(cè)量。此設(shè)備保證測(cè)量的準(zhǔn)確性,為產(chǎn)品品質(zhì)提供專業(yè)的保障。